Lütfen cihazı dikey konumda tutunuzLütfen cihazı dikey konumda tutunuzTürkiye temsilciliğini üstlendiğimiz Veeco firmasının Atomik Kuvvet Mikroskoplarına yönelik düzenlenen aplikasyon eğitimi, 26 – 30 Mayıs 2008 tarihleri arasında İngiltere’de gerçekleştirildi.
AFM sistemleri ile ilgili genel bilgilerin verildiği eğitimin ilk günü, Contact Mode / Friction modunun ne zaman ve hangi tür numunelerde kullanılacağı, prob çeşitleri, contact mode parametrelerinin ayarlanması ile ilgili teorik bilgiler anlatıldı. Innova cihazında yapılan uygulamalı çalışmalar, eğitim alanlar açısından oldukça faydalı oldu.
Software kullanımında daha detaylı çalışmaların yapıldığı ikinci gün, görüntü elde edebilmek 
için kullanılan parametrelerin (set point, integral gain, proportional gain) doğru ayarlanması ve bu parametrelerin birbirleri ile ilişkisi gibi konulara yer verildi. Sıvı numuneler için kullanılan Liquid cell kullanımı, tip takılması gibi uygulamalar cihaz üzerinde gösterildi.
Tapping mod / phase imaging kullanım alanları, kullanılan prob türleri, tapping mod’un türevleri olan diğer modlar (MFM, EFM, Nanoidentition) ile ilgili teorik bilgilerin verildiği üçüncü gün ise Multimode ve Innova cihazlarında Veeco’nun patenti altında olan Tapping modda pratik çalışmalar yapıldı. Tip takılması, yazılım üzerinde takılan tiplerin frekans değerlerinin girilmesi ve yazılım üzerinde tapping parametreleri ile ilgili bilgi verilerek, standart numunelerde tapping modda çalışma yapıldı.
Tapping türleri (light, hard ve standart) ile ilgili bilgilerin verildiği dördüncü ve beşinci gün, numunenin fiziksel özelliklerine göre (sert, yumuşak, pürüzlü, düzgün, vb.) uygulanacak tapping türleri ile ilgili cihazlar üzerinde çalışma yapıldı. Tapping mod türevleri olan Magnetik Force Microscopy (MFM) ve Electric Force Microscopy (EFM) modları ile çalışmalara devam edildi.
