Skip to content

Şeker Analizinde Dönüm Noktası; Schmidt+Haensch Saccharomat®

04 Mart Ankara ve 06 Mart İstanbul’da düzenlenen ‘Schmidt+Haensch Polarimetreler - Rekraktometreler Seminerlerimiz yoğun ilgi ile karşılandı. Ankara TŞFAŞ Şeker Enstitüsü Eğitim Salonu’nda düzenlenen seminerimize Türkiye Şeker Fabrikaları’nın yanı sıra çevre illerden bir çok şeker üreticisi de katıldı. Şeke rfabrikalarına özel olarak düzenlenen seminerimizde cihazlarımızın şeker analizindeki başarısının altı çizildi. Şeker analizi konusunda sektörde benzersiz olan Saccharomat® cihazı koyu renkli örnekleri analiz etme özelliği ile şeker sektöründeki eşsizliğini hala korumakta. İstanbul Point Hotel’de düzenlenen seminerimizde ise, şeker üreticileri, ilaç üreticileri ve mühendislik fakülteleri gibi farklı sektörler için farklı analiz ve çalışmalara yönelik uygulamalar tanıtıldı. Çok yönlü kullanım imkanı sunan Saccharomat® Şeker Enstitüsü’nde kanıtladığı başarısını, diğer sektörlerde de devam ettirmekte. İleri teknoloji ürünü, en son sistemlerimizi bir kez daha müşterilerimiz ile buluşturmanın gururunu ve mutluluğunu yaşıyoruz.
   

Otomatik Laboratuvar Analiz SistemiPurity Analyser...

Şeker endüstrisinde, şeker pancarı ve şeker kamışı saflık ölçümleri, otomatik laboratuvar analiz sistemi Purity Analyzer ile daha hassas ve etkili olarak yapılabiliyor.

Modüler yapıdaki Schmidt+Haensch Saccharomat® Polarimetre serileri, ATR ölçüm başlığı (Refraktometre) ile direkt olarak birleştirilebilir ve ortak bir yazıcı ile ilgili tüm ölçüm sonuçları çıktı olarak alınabilir. Ayrıca, şeker pancarı ve şeker kamışı proseslerinde hammadde, ara ürün, son ürün, farmakoloji ve gıda endüstrilerinde ham madde alım laboratuvarlarında yapılan uygulamalarda kullanılır.

Saccharomat® ile Benzersiz ÖzelliklerSizinle...

• Kuartz kafes kompenzasyon prensibi ile yüksek absorpsiyon özellikli koyu renkli örnekler için yüksek stabilitede ölçüm garantisi

• Çok koyu örneklerin ölçümü için AutoFilt Z ile filtrasyon sonrası NIR-/NIRW2 modelleri (infrared) ile ölçüm olanağı

• Standart çözeltilerde, örneklerin 5.0 optik yoğunluğa kadar ölçüm imkanı (geçirgenlik %0.00001)

• Yüksek kompenzasyon hızı

• Kalibrasyon olmadan çalışma imkanı

• Ek refraktometre ölçüm başlığı ile kolay saflık ölçümü ve hesaplama

• Uzun cihaz ömrü ve düşük bakım maliyeti

Geri
ICON Algı Yönetimi ve Bilişim Sistemleri